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                XH-AP150半自动探◥针台技术标准

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                XH-AP150半自动探针台技术标准

                XH-AP150半自动探针台技术标准
                 

                半自动□探针台与测试仪配接后,能自动完成对芯片的电参数测试。
                技术性能:
                1.         采用高性能计算机,Windows操作系统,动态显示测试过程;
                2.         TTL专用接口,IEEE488接口;
                3.         MAP图显示、支持大量数据存储;
                4.       具有同步打点、延时打点、离线打点功能;
                5.         具有编辑、矩阵、环形、圆形〗等多种自动测试方式;
                6.         适合对光敏感器件的遮光测试。
                技术指标:
                性能名称
                技术指标
                可测片径
                4″、5″、6″
                工作台
                最大行程
                180mm×260mm
                定位精度
                ≤±0.015mm
                步进分辨率
                0.001mm
                承片台
                Z向行程
                8mm
                Z向⌒ 定位精度
                ≤±0.005mm
                Z向分辨率
                0.001mm
                θ向调节范围
                ±10 o
                θ向分辨率
                0.001 o
                观察装置
                双目体视显微镜,放大倍数7.5X~45X
                遮光罩装▽置(适合对光敏感器件的遮光测试)
                (选配)
                上、下︾圆片方式
                手动方式
                外形尺寸(宽×深×高)
                750mm×700mm×1500mm
                 
                环境要求:
                1.       电源:AC 220V±22V   50Hz±1Hz,功率:<0.8KW,真空:< -80 KPa
                2.       使用环境:温度:10oC-30oC 湿度:<60%
                 
                 
                设备外形:
                 
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