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                介质损耗试验仪

                介质损耗试验仪
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                北广精仪
                12.12 (GDAT-A)
                北京
                详细说明

                介质损耗试验仪

                介电常数介质损耗试验仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
                一、介电常数介质损耗试验仪概述 型号:GDAT-A

                GDAT高频 Q 表作为最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗♀测试仪器,测试频率上限达到目前国内最高的160MHz。
                GDAT高频 Q 表采用了多项领先技术:

                双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
                双测试要素输入 - 测试频率』及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
                双数码化△调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
                自动『化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率⊙和电容的自动测量。
                全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号@源频率、谐振指针。
                DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高〓稳定。
                计算机自动修正技术和测试回路最优化 —使测试回路@ 残余电感减至最低,彻底根除 Q 读数值在不同频率◥时要加以修正的困惑。
                gdat高频Q表的创新◢设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了完美的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实↑验室和电子制造业提供了更为方便的检↘测工具
                ,测量值更为精确,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。
                二、介电常数介质损耗试验仪概述
                介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电№容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电◆常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因▲素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐▲振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示『等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至最低,并∮保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
                该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
                 
                  主要技术特性 
                Q 值测量范围  2 ~ 1023 , 量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档 
                固有误差  ≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz) 
                工作误差  ≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz) 
                电感测量范围  4.5nH ~ 140mH 
                电容直〒接测量范围  1 ~ 200pF 
                主电容调节范围  18 ~ 220pF 
                主电容调节准确度  100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 % 
                信号源频率覆盖范围  100kHz ~ 160MHz 
                频率分段 ( 虚拟 )  100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz 
                频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字 

                搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用
                三. 概述

                BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套,可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系◆数(损耗角正切值)。
                BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品,它采用了数显微测量装置,因而读数方便,数据精确。
                测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。
                平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
                BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器,通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化,测得绝缘材料的损耗角正切值。
                从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。


                BD916介质损耗测试装置技术特性

                平板电容器: 极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选      
                极片间距可调范围:≥15mm
                2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm
                3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
                4.测微杆分辨率:0.001mm
                 
                电感:
                 
                线圈号    测试频率    Q值    分布电容p       电感值 
                  9         100KHz      98       9.4           25mH
                  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
                  7         400KHz    202       16           0.99mH
                  6           1MHz     196       13          252μH
                  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
                  4         4.5MHz    231       7             10μH
                  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
                  2          12MHz      229     6.4        0.508μH
                            
                  1   25MHz,50MHz   233,211    0.9       0.125μH


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