ICT（In circuit Testing）它能把待测元件与PC资料库内相对应的元件资料作逻辑功能测试比较，测试〖时可在CRT上显示元件管脚连接状态，元件输入管脚的√输入波形，同时显示相应输出管脚的实测波形及标准波形，以便判定IC逻辑功能好坏。此功能可快速测试IC好坏，也可测试分析，还可识∑　别不明型号的IC。

1、探棒对探捧（“棒”—“棒”模式）	3、测试夹对探捧（“夹”—“棒”模式）
2、探捧对测试夹（“棒”—“夹”模式）	4、测试夹对测→试夹（“夹”—“夹”模式）

1、TVED允许两种建立测试图形和方法∑ a）在TVED图形界面上直】接建立  b）读入DCL语言的编译结果▓

2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能，参考取回的响应，不断对测试图形加以调整、修改。

3、4种测试方式：   a）完整执行一个测试  b）执行一个测试的◥一部分c）循环执行 d）单步运行

型号	ICT4040XP	ICT4880XP	ICT8080XP
通道	ICTF:  40th V/I曲线:40th	ICTF:  40th V/I曲线: 80th	ICTF: 40×2th V/I曲线: 80th
附件	双列直插夹具(7件)    表面贴双列直插夹具(7件)   单排式40脚夹具(3件)
价格	28,000	36,000	48,000
产地	科奇仪器

单个√器件功能测试	IC状态测试		VI曲线分析		PROM操作		LSI在线分析		数据库整↘理
器件端口特征曲线测试		系统维修㊣日记		使用原测试软件		TVDE高级测试平台		全面网络测试

MSI在线功能测试	MSI离线功能测试	MSI在线←型号识别	MSI离线型号识别
MS在/离线循环测试	RAM离线完全测试	RAM在线快速测试	RAM在线完全测试
PROM离线空检测	LSI离线功能测试	LSI在线功能测试	LSI离线测试库更新

PROM离线完全学习	PROM离线完全比较	PROM在线快速显示	PROM离线学习库内容转换
PROM在线快速学习	PROM在线快速比较	PROM在线完全学习	PROM在线完全学习库内容显示
PROM在线完全比较	PROM离线学习库内容显示		PROM在线完全学习库内容转换

VI曲线学习

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操作系统 ：   Win 9X 或 Windows XP	内    存 ：   ≥16M
C P U    ：   PII 以上	硬盘空间 ：   ≥25M
显    示 ：   1024×768，24位真彩色	鼠    标 ：   必备，可为任意型号
电    源 ：   220V/50Hz