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TH2661型四探针测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量，USB接口可为用户提供远程控制及测试数据的统计和分析。由于采用了电池和外接电源两种供电方式，既能适应固定场合对元器件进行检测，又可随身携带以满足测试人员的现场测试要求。
