一,概述;
SZT-5硅材料复合测试仪，是由二种硅材料测试仪※器组合而成的
1，二量程的电阻测量仪器，配以手持式四针测试头或座式测试架，可◇用来测量片状，柱状，或块状，电阻率
在0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。通过对恒流源的调整，可以对某些测量结果进行修整，例如对普通硅材料的测试结果要乘以0.628的探险头修正系数，对硅材料薄层扩散和导电薄膜 “方块电阻“ 的修正系数为4.53等均可通过调正恒流电流加以处理。SZT－5数字式四探针测试仪，体形小巧，操作方便，量程适中，十分适於对重炼回料的分选。
2，整流法硅材料P-N极性判¤别仪，配有三针手持式探头，能对片状或块状电阻率在1000-0.01欧姆/厘米的。硅材料进行极性判别,本仪器工作环境条件为：温 度：18℃―25℃；相对湿度：50%－70%；工作↓室内应无强电场干扰，不与高频设备共用电源。
二，技术参数
