技术参数：
1． 测量范围：
电阻率：10的-3次方~10的5 次方Ω-cm
方块电阻：10的-4次方 ~10的5次方Ω/□
电阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω

2． 可测半导体材料尺寸
直径：5mm-130cm
长度：≤400mm

3． 测量方法：轴向、断面均可

4． 显示方式：41/2,数显,极性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。

5． 恒流源：
（1） 电流输出：直流电流0~100 mA连续可调。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 误差：±0.5%读数±1个字

6.四探针测试探头
(1) 探针间距:1mm
(2) 材料:碳化钨.探针机☉械游移率:±1.0%

7.电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W

8.外型尺寸:260×160×215mm