表面轮廓仪
做为中国权威科研供应商之一，本公司一直努力为广大科研用户提供优质的产品和优惠的价格，为中国的科研领域献出一份绵薄之力。
表面轮廓仪 参数：
测量重复性 6Å
扫描长度 50μm-55mm
单次扫描最大数据点 60,000个
允许样品最大高度 100mm (根据配置不同会有所变化)
垂直范围量程 524μm (1mm选配)
最高垂直分辨率 1 Å (6.55μm量』程范围下)
样品台 150mm，X-Y-θ手动调节
探针压力范围 1-15mg (0.03mg选配)
摄像头显微镜视野范围2.6mm (0.67-4.29mm选配)
表面轮廓仪 产品说明:
主要应用于薄膜厚度测ζ 量、样品表面形貌测量、薄膜应力测Ψ量、样品表面粗糙度/波纹度测量、以及样品表面三维形貌测量等众多领域。
Dektak 150集四十余年的技术积累和创新ㄨ于一身，为满足用户不同应用方向的需要提供了多种可选配置。坚固的铝质材料铸成的机身框架以及支撑部件显著提高了仪器的重复精度，并降低了地板噪音对测量的干扰。基于Windows XP的Dektak随机←配备软件系统界面友好，为用户▆提供了完善的分析功能。“一键式”操作方式使得测量工作简单易行。通过※选配三维成像附件套装还可以极大地扩充仪器的功能。
