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                薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film

                薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film
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                SCS10-Film
                北京
                详细说明
                薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film


                适用范围: 非晶硅薄膜电池、CIGS 薄膜电池、CdTe 薄膜电池、非晶/ 微晶双结薄膜电池、非晶/ 微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等
                光谱范围:300~1700nm
                电池结构:单结、多结太阳电池
                可测参数:光谱响应度、外量子效率、反射率、
                透射率、内量子效率、短路电流密度
                可测样品面积:300mm×300mm

                薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film



                ● 集成一体化turnkey系统
                ● 大面积薄膜电池测试专用
                ● 超大样品室,光纤传导
                ● 背面电极快速连接
                ● 反射率、内外量子效率同步测〓试
                ● 快速高效售后服务

                薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film


                 SCS10-Film系统规格

                光源

                150W高稳定性氙◣灯,光学稳定度≤0.4%,光纤传导

                测试光斑尺寸

                2mm~10mm可调

                单色仪

                三光栅DSP扫描∴单色仪

                波长范围

                300nm~1700nm

                波长准确度

                ±0.2nm(@1200g/mm,500nm)

                扫描间隔

                最小可达0.1nm,默认设置10nm

                输出波长带宽

                0.1nm~10nm可调,默认设置5nm

                多级〖光谱滤除装置

                根据波长自动切换,消除多级光谱的影响

                光调制频∩率

                4~400Hz

                标准探测∑ 器

                进口Si光电探测器,含校正测试报告

                数据采集装置灵敏度

                直流模式:100nA;交流模式:2nV

                测量重复精度

                <0.6%( 400~1000nm范围<0.3%)

                测量速度

                单次光谱响应扫描 <1min;完整流程扫描 <5min(扫描间隔10nm)

                样品加持

                探针样品台,156mm×156mm,特殊样品〖台可定制

                *Mapping扫描

                速度:20点/s(@0.5mm step)

                分辨率:0.5mm

                仪器尺寸

                主机:;样品室:

                控制机柜:800mm×600mm×1300mm

                计算机及软件

                系统含▲工控计算机、显示器、鼠标、键盘,

                正版windows 7操作系统,系ω 统软件安装光盘

                 








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