容量法4站式炭黑比表面仪详解
V-Sorb 4800S容量法4站式比表面仪是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积检测』仪器,众多著名科研院所及500强企业应用案例,采用静态容量法测量原理;相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.
金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质√研制及标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模最大,唯一通过ISO9001认证的企业,雄厚实力和完善的质量※及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!
全自动容量法4站式炭黑比表面仪技ぷ术参数
比表面仪测试方法及功能:氮吸附真空▆容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定BET法比表】面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定■,平均粒径估算,样品真密度测定, t－plot图法外比表面ㄨ积测定
测定范围:0.01(m2/g)--至无上限(比表面积)
测量精度:重复性误差小于Ψ1.5%
比表面仪真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高□ 比表面积测试的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命
液位控制:V-Sorb独创的液氮面♂控制系统█,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻〓底消除因死体积变化引入的测量误差
比表面仪控制系统:采用可编◎程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命
样品数量:同时进行4个样品分析和4个样品脱气处理,样品测试系统和样品处理系统相互独立,并且样品测试和样品脱气处理¤可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提＠高仪器使用寿命
比表面仪压力测量:采用原装进口压力传感器测量压力,显著提高低 P/Po点下测试精度,2支0-1000 Torr(0-133Kpa),压力传感器必须提供进口检测々证书
压力精度:进口硅◣薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15％)
分压范围:P/Po 准确可控◥范围达5x10-6－0.995
比表面仪极限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr)
样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状♀材料等
测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需¤选择如Ar,Kr)
数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力╱强
比表面仪☆数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表
全自动容量法4站式炭黑比表面仪特点
A.炭黑比表面仪真空系统
1)独创〓的一体化集装式管路系统,采用进口集装∩管路,显著减少管路连接点,大大降低漏气率,提高极限真空度;
2)模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能▼扩展,有利于维修更换;
3)采用德国原装进口的真空泵,噪音小,运行稳定,防油返功能卓越,极限真空度高,可达4x10-2Pa (3x10-4Torr).
B.炭黑比表面仪控↓制系统
1)采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,抗干扰能力强,稳定性大㊣大提高,安装及拆卸都非常方便;
2)独特设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,有效防止样品处』理过程中产生的杂质】对测试管路的污染.
C.炭黑比表面仪提高测试精度措施
1)采用与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜压力传感器,压力测量精度为相应读数的0.15％,远远优于0.15％的全量★程精度(FS)传感器;
2)与国外同类产品类似,采用0－10Torr(可选)和0－1000Torr双压力传感器,对⊙测试范围内的压力采用分段测量,大大降低了低真空下的测量误差,0－10Torr(可选)的硅薄膜压力传感器精度远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15％);
3)独创←的一体化集装式管路系统,采用进口↙集装管路,显著减少管路连接点,大大减少死体积空间,有利于降低测量误差;
4)独创的步进式液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;
5)独特设计的抽★气及进气控制系统,有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路的清洁和样品质量无损失,保护高精度压力传感器【免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移.
D.炭黑比表面仪数据采集及处理
1)采用高精度及高集成度数据采集模√块,连接方便,误差小,抗干扰能力;采用业界标准的485通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式;
2)多种理论计算模型数据分ㄨ析,为用户提供全方位的材料分析方案;强大的测试数据↑归档保存,查询系统,有利于用户数据管理.
E.炭黑比表面仪适用范围
1)超微粉体，纳米材料，颗粒及纤维状材料比表面积分析测定；
2)粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测；
3)高校及科研单位材料研究测△试，吸附科学及BET理论教学实验；
4)电池材料，催化剂，添加剂，吸附剂，陶瓷烧结材料，磁性材料，储能材料等相关性能测定；
5)其它与材料表面性能相关的研究ξ 工作
