全自动静态法硅藻土比表面测定仪(孔隙度测定仪)详解
V-Sorb 4800P硅藻土比表面测定仪(孔隙度测定仪)是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪器,众多著名科研院所及500强企业应用案例;采用静态容量法测量原理;相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.
金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质研制及标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构ㄨ的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模最大,唯一通过ISO9001认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购←的产品无后顾之忧!
全自动4站硅㊣藻土比表面测定仪(孔隙度测定仪)特点
A.硅藻土比表面测定仪(孔隙度测定仪)真空系统
1)独创的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大→降低漏气率,提高极限真空度;
2)模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置¤及后期功能扩展,有利于维修更换;
3)采用德国原装进口的真空泵,噪音小,运行稳定,防油返功能卓越,极限真空度高,可达4x10-2Pa (3x10-4Torr).
B.硅藻土比表面测定仪(孔隙度测定仪)控制系统
1)采用广泛应用于工业◎控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,抗干扰能力强,稳定性大大提高,安装及拆卸◥都非常方便;
2)独特设计¤的测试系统管路和样品处理管路分离结构,有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染.
C.硅藻土比表面测定仪(孔隙度测定仪)提高∮测试精度措施
1)采用与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜压力传感器,压力测量精度为相应读数的0.15％,远远优于0.15％的全量程精度(FS)传感器;
2)与国外同类产品类似,采用0－10Torr和0－1000Torr双压力传感器,对测试范围内的压力采用分段测量,大大降低了低真空下的测量误差,0－10Torr的硅薄膜压力传感器精度远高于相同量程的皮拉尼电阻】真空计(一般误▼差为10%-15％);
3)独创的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大减少死体积空间,有利于降低测量误差;
4)独创的步进式液氮面控制系统,确保测试全程液⊙氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;
5)独特设计的抽气及进气控制系统,有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路〗的清洁和样品质量无损失,保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移.
D.硅藻土比表面测定仪(孔隙度测定仪)数据采集及处理
1)采用高精度及高集成度数据采集模块,连接方便,误差小,抗干扰能力;采用业界标准的485通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式;
2)多种理论计算模型数据分析,为用户提供全方位的材料◣分析方案;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理.
全自动硅藻土比表面测定仪(孔隙度测定仪)应用领域
1)超微粉体，纳米材料，颗粒及纤维状材料比表面积分析测定；
2)粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量≡监测；
3)高校及科研单位材料研究测试，吸附科学及BET理论教学实验；
4)电池材料，催化剂，添加剂，吸附剂，陶瓷烧结材料，磁性材料，储能材料等相关性能测定；
5)其它与材料表面性能相关的研究工作.
