技术参数
1、扫描方式：针尖扫描或样品扫描，AC模式，接触模式以及所有标准AFM模式
2、分辨率：
< 0.005 nm (Z方向)
< 0.015 nm (XY方向)
< 0.002 nm (XY方向) 低压模式
3、扫描范围: XY方向70um、Z方向70－120um，另外有30um和10um扫描器选配
4、扫描步进：70um扫描器＜1nm、10um扫描器＜0.1nm
5、扫描器厚度：7mm；重量：75克
6、最大样品尺寸：半径16mm，另根据客户需求可以选卐配任何合理尺寸；
探针
最大特点：所有的商业化的探针均适用于当前的Nanonics NSOM操作
※NSOM探针
※AFM探针
※研究超低弹性模量的AFM探针
※专用于深↙沟的AFM探针
※中空的AFM探针
※玻璃绝缘的AFM传感⌒纳米线
※双线玻璃绝缘探针
※普通模式SPM探针
操作模式
※NSOM反射模式
※NSOM透射模式
※NSOM收集模式和收集暂时场模式
※NSOM荧光模式
※NSOM-PL模式
※三维㊣ 共聚焦成像（透射、反射、荧光）
※非接触式NSOM、液体（生物样品）NSOM
Nanonics Analog控制器
※软件包-NT,Win95/98,XP兼容；
※实时图像显示，图像获取（高达8通道）及分析，3D处理；
※LabVIEW软件包拥↓有4通道的数据采集功能；
主要特点
应用范围宽
1、表面和材料科学
微纳米结构表征、粗糙度、摩擦力、高度分布、自相关评估、软性Ψ材料的弹性和硬度测试
2、生物应用
液体中完整活细胞成像、细胞膜孔隙率和结构表征
3、薄膜表征
孔隙率分析、覆盖率、附着力、磨损特性、纳米颗粒、岛屿分布
4、硬盘检查
表面检查和缺陷鉴定、磁畴成像、摩擦力和磨损方式和读∩写头表征
5、半导体制造中的测试
高分辨率地定量结构分析以及掺杂浓度的分布等☆各种材料特征
6、失效分析
缺陷识别、电性测量和键合电极大摩擦特性等
测试独特
1、测试环◎境控制NSOM，至液氦温区和超高真空度
2、环境控制操作与光学显微镜、微拉曼等完全兼容
3、独有的电学及热学测量
