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                研究级正置金相显微镜 XHC-S1

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                XHC-S1
                北京东方华测科学技术中心
                北京
                详细说明

                技术规格

                正置金相显微镜型号
                XHC-S1
                光学系统 UIS 无限远光学系统
                光路设计 透、反射双光路
                观测方式 明/暗场观测、偏光观测、微分干涉(DIC)观测
                放大倍数 50X-1000X
                目镜
                超宽场、超大视场目镜10× 视场直径达到¢25mm

                物镜 平场无限远长工作距离,明场/暗场物镜(标配四个)
                5×/0.1B.D / W.D.29.4mm
                10×/0.25B.D / W.D.16mm
                20×/0.4B.D / W.D.10.6mm
                40×/0.6B.D / W.D.5.4mm
                50×/0.55B.D / W.D.5.1mm
                80×/0.75B.D / W.D.4.0mm
                100×/0.8B.D / W.D.3.0mm


                转换器 带微分干涉(DIC)插口的四孔转换器
                偏光装置 检偏镜可360度转动,起偏镜、检偏镜均可移出光路
                滤光装置 插板式滤色片(绿、蓝、中性)
                聚光镜 NA1.25阿贝聚光镜带可变光▓栏和滤色片
                调焦系统 具有粗、微调同轴调节,行程40mm,微动格值0.002mm
                载物台 二维移动载物台,低位同轴手轮操作
                X、Y移动范围:50mm×80mm;平台尺寸:189mmX160mm
                照明系统 落射照明:带孔径光栏和视场光栏,卤素灯12V/50W,AC85V-230V, 亮度可↘调节
                透射照明:卤素灯12V/50W, AC85V-230V,亮度可调节

                主要用途

                XHC-S1型正置金相显微镜可广泛应用于各个高性㊣能要求的研究观测,尤其带有微分干涉功能,被广泛应用于太阳能电池硅片检测、FPD、电路封装、半导体晶圆、电路基板、材料、精密←模具的检测。

                以上仅为对该系列正置金相显微镜中典型产品的描述,如需订购或技术支持请↑联系

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