仪器介绍
可依据样品迁移状态选择下列测量模式:
A.自动模式:
自动辨识个别粒子,可设定时间及粒子数量进行测量,可同时于屏幕观察个别粒子
迁移情形,具备4种图形显示窗口:
1.样品试管内之粒子迁移率分布曲线
2.PH与Zeta电位对照曲线,自动计算等电位点
3.Zeta电位分布曲线
4.相对粒径与Zeta电位对照曲线
B.手动模式:
具备2种窗口,可显示:
1.各别粒子Zeta电位
2.选定多数粒子之各别及平均Zeta电位
主要特点
产品特色:
1.可单独仅以主机直接测量
2.可同时测量及透过屏幕观察粒子迁移情形
3.样品槽坚固易于拆卸及清洗
4.测量粒径范围: 20 nm - 100μm
5.仪器设计简洁,测量时可由操作面板轻易设定,如电压调整等
软件功能
1.采用影像分析技术,自动计算Zeta电位值
2.可自动连续测量,并设定样品测量参数
3.自动模式会以箭头符号显〖示样品粒子迁移路径,方便分析
4.可同时进行粒径测量
5.可手动分析凝聚粒子(flocculation particles)或单一粒子(individual particles)
6.可配合一般仪器进行沉降测量 (sedimentation measurement)
7.可配合他牌电泳显微镜使用
8.适用于Window 2000操作系统,简易操作软件
技术参数
主要规格:
样品槽组件: Acrylic/Teflon (光线窗口:glass)
样品槽尺寸: 140W x 40D x 60H mm
电极距离: STD 100 mm
迁移层尺寸: 最大直径 20 mm x 2 mm厚
样品台: 位移0 – 7 mm ± 0.01 mm 数位式
放大倍率: 400 X (监视屏幕) ( 1600 X选项 )
Zeta电位值: -200 至 200 mV
迁移速度: -20 至 20 cm/sec．V
粒径范围: 20 nm 至 100μm
操作电压: 0 – 500 VDC
光源: 卤素灯50W / Laser beam ( 粒径 < 0.6μm )
照射方式: 1)穿透 2)绕射
操作方法: 1)视觉 2)影像处理
端子输出: 影像讯号 (BNC)
尺寸/重量: 340W x 500D x 210H mm / 16 kg
供应电源: 100 - 240V, 1.5A , 50/60Hz 
