MCH系列电◥脑膜层测厚仪是高新技术的结晶。他采用微机技术，精度高，数字显示，示值稳定，功耗低，操作方便，无校正旋钮，单探头全量程测量，体积小重量轻。具有存贮，读出，统计，低电压指示、上下限∮报警功能。其性能达到国际同类产品领先水平。
　　本仪器采用磁性测√厚法，方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度，如钢铁表●面上的锌、铜、铬镀层，或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑，沥青等涂层厚度，该仪器广泛用于机械、汽车、造船，石油、化工、电镀、喷涂、搪瓷等行业。是铁ξ　磁材料保护层质量检测的必备工具。

   技术指标

型号		MCH-2001(J)	MCH-2002(J) (高精度）	MCH-2003(J) （宽量程）	MCH-2004(J)
测量范围(μm)		0-5000	0-450.0	50-10000	0-3000
测量误差		<3%+1um	<3%+0.5um	<3%+10um	<3%+1um
最小示值		1um	0.1um	10um	1um
显示方式		7位液晶数字显示
主 要 功 能	测量	单探头全量程测量
	存贮	可存入测量数据800个
	读	读出已存入测量数据
	统计	显示已存数据最小值、均值、最大值
电　　源		5#干电池3节
功　　耗		最大功耗100mw
外形尺寸		134*72*31*mm
重　　量		150g
使用环境		温度：－10℃～＋40       相对湿度：不大于90％
备注：可配专检测》内防腐的伸缩式长柄探头（1米左右）