美国CalMetrics X-RAY镀层测厚仪标准片
测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案.也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB,五金电镀,半导体等行业使※用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片,多镀层片,合↑金镀层片,化学镀层片。如:
单镀层：Ag/xx, 双镀层：Au/Ni/xx , 三镀层：Au/Pd/Ni/xx, 合金镀层：Sn-Pb/xx, 化学镀层：Ni-P/xx.
