技术参数 质量数测量范围:1-100AMU/1-200AMU | |
主要特点 性能出色,价格很有竞争力,非常适用于半导体和薄膜沉积过程中的检漏和残①余气体分析 | |
LC系列有出色的性能价卐格比,非常※适用于过程压力低于10exp-4Torr的检漏和残余气体分析;使用开放式离子源,质量数测量范围1-100AMU或1-200AMU,数据有多』种显示模式:质谱图,棒状图(省略分『辨率信息),趋势图(信号随时间的变化),检漏模式,列表模式,指︽针模式等;用户可对上述显示方式进行任意组合并保存,方便使用;软件□还自动生成日志文件,记录灯丝状态,报警事件等①,仪器开/关,方便管理 |