技术参数 可测元素:Ti~U |
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主要特点 选用Mo靶材X射线管,测量贵金属更灵敏。 | ||
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日本精工电子有限公司(Seiko Instruments Inc.简称SII),于1978年领先于其他厂商,研究㊣开发出日本第一台荧光X射线镀层厚度测量仪-SFT155。经过二十多年的努力,现在的荧光X射线镀层厚度测量仪能够准确地测量微小面积的镀层【厚度。现已为全世⊙界电子零部件、印刷电路板、汽车零部件〗等相关厂商提供了5000台以上的测量仪,深受用户的〒依赖与好评。从此,“SFT”几乎成为镀层厚度测量仪的代名词。 |