主要特点
l 测量精度高，测量分辨率可达每秒8位
l 测量时单次分辨率达到2.5ns
l 通道A频率测量可达200MHz
l 测量最高频率可达3GHz（选件）
l 采用16位微芯单片机，数据处理速度快
l 大规模集成电路和CPLD器件，仪器可靠性高
l 频率测量具有极限运算和数学运算功能
l 频率测量具有多次平均、最大值、最小值、单次相对偏差、标准偏差、阿伦方差等统计运算功能
l 仪器具有USB接口，可选配GPIB、RS232接口
l 仪器可选高稳晶▅振
l 采用VFD显示，清晰直观，造型美观，体积小，操作舒适
技术参数
1 使用环境
本仪器工作环境温度为0~+40℃，相对湿度为20~90%
2 仪器输入特性
2.1 通道A、B
频率范围： DC耦合时0.001Hz~200MHz
AC耦合时1MHz~200 MHz（50Ω开）
AC耦合时30Hz~200 MHz（1MΩ开）
动态范围： 50mVrms~1.0Vrms正弦波
150mVP-P~4.5VP-P脉冲波
输入阻抗： 1MΩ//35pF或50Ω
耦合方式： AC或DC
触发方式： 上升沿或①下降沿
输入衰减： ×1或×10
低通滤波器： 截止频→率约100kHz
触发电平： -5.000V~+5.000V任意设定
2.2 通道C（AC耦合）
1、频率范围： 100MHz~2.6GHz
动态范围： -27dBm~+19dBm正弦波
输入阻抗： 50Ω
耦合方式： AC
2、频率范围： 2.6GHz~3GHz
动态范围： -15dBm~+19dBm正弦波
输入阻抗： 50Ω
耦合方式： AC
2.3 外闸门♂输入
信号输入范围： TTL电平
脉冲宽度： ≥50ns
外闸门信号： 正脉冲
3 时基
3.1 内部※晶体振荡器
标称频率： 10MHz
|
| 普通晶振(000) | 高稳晶振（001） |
| 出厂准确度 | 优于1×10-6 | 优于5×10-8 |
| 秒级稳定度 | 优于1×10-8 | 优于1×10-10 |
| 开机特性 | 1×10-6/8小时 | 5×10-7/8小时 |
| 老化率 | 无 | 1×10-10/日 |
3.2 时基输入
频率： 5MHz或10MHz
幅度： ≥1VP-P
3.3 时基输出
频率： 10MHz正弦波
幅度： ≥1VP-P
