小巧的探头仅有1.5in长、100mil宽。该探头与示波器性能相配,当为︾当今使用广泛的EIAJ和JEDEC表面封装器件的提供测试方案。
尽管随着测量仪器的改进已经提供了一系列的数字式诊断工¤具,但面对探测小几何尺寸IC的具体挑战至今未能解决。Tektronix推出的SMD探头提供给电路设计人员第一套完整的、现代化的探测小几何尺寸IC器件工具。
SMD系列探头的基础接触件是∴一个能插方形或圆形的25mil插座各№种各样的适配器可以方便、不损伤、暂时的连接到使用广泛的EIAJ和JEDEC表面封装器件上。
每个SMD探头→均最大限度地考虑了减少对TTL、ECL、CMOS、FastCMOS和BiCOMS电路容性加载。探头和示波器组成→的测量验证提供快速瞬态响应、宽频率和低电容加载,已成为电路设计人员优选。
特点和优点
适用于表◥面封装器件
支持SMD封装
590mil SO/SOIC
50mil QUAD
25mil JEDEC
0.5mm EIAJ
0.65mm EIAJ
兼容电路
CMOS
BiCMOS
FastCMOS
TTL
ECL
兼容示波器
TDS系列
应用
易接入
通用相对测量
数字设计
器件分析