ABI-8200包含2个重要测试模◥块：ABI-6400+ABI-2400
模块一：ABI-6400的技术参ぷ数
6400单独成为测量设备的外形
离线测试盒
主要测试功能：
1)64通道数字集成电路在线、离线功能测试
2)64通道V-I曲线模拟通道测试(可测模拟器件)
3)强大的元器件和整板仿真测试功能
4)阈值电平零界点扫描测试
5)短路追踪测试(低电阻测试)
6)实时显示输▼出逻辑电平值
7)存储器功能测试
8)数字时序编辑♀功能※
9)未知器件型号查询
10)程控电≡源供电,可设定输出的延迟时间
产品特征描述
1)中英文测试软件，产品体↘积小，重量轻，USB接口，适合携带
2)数字测▲试通道:64路(可扩充到256通道).
3)模拟测试通道⊙64路，即64路V-I曲线测试(可扩充到256通道). 1路v-i探棒测试
4)隔离通道:4路.总线竞争信号隔∏离功能:用于解除总线竞争，确保正确测试挂在总线上的三态器件(如74LS373,74LS245,等)，可提供4路总线竞争隔离信号。
5)能够对多种逻辑电平数字逻辑器『件进行在线/离线功能测试；可以通过图像化的编㊣ 辑器自定义测试库，可◥以快速扩充测试库
6)配有离线测试盒，快速测试批量元器件。离线测试和在线测试功能完全一至。
7)IC型号识别：标识不清或被擦除型号的器件，可“在线”或“离线”进行型★号识别测试。
8)读写存储器功能测试:可针对记忆♀容量在2k×8到256k×8的EPROM进行读取,对比及将资料存入电脑中,可进行在线或离线测试.可采取在线(离线)学习/比较的测试△方法，先把好板上EPROM中的程序读出来，保存到计算机上〓，再和坏板上的相同器件中的程序进行比较测试；测试结果定位到存储单元地址上，并打印出该地址正确和错误的代码
9)5V/5A的直流电源程控自动输出,具有过电压及过电⊙流保护功能.由系统自动∮控制输出,并可设定输出的延迟时间.方便各种类型电路板的测【试。
10)数字集成电路测试中集电极开路，自动上加上拉电阻。
11)V-I曲线测试∩具有单通道探笔测试功能，方便分立器件的V-I曲线测试
12)LSI大规模集成电路在线功能及状¤态分析测试：可采取◇学习、比较的◢方式对一些常见的LSI器件进行功能及状态分析测试。
测试准确-源自先进的测试技术
1.同一器件同一时间完成多种测试：功能测试，V-I曲线测试，曲线拐点温度◣变化系数，各个管脚电▓压值测量,管脚连接状态测量显示,
2.图形化元件测试库的编∮辑,输入输出各个测试通卐道的逻辑时序可以由测试者图形化自定义编〓辑测试完成，方便快捷的建立起测试库中没有的元件库
3.整板测试非常简◣单，通过图形化的测试库编∩辑器，根据电路板原※理，定义输入※激励信号及测试输出的标准响应信号，快速建立板测试●库，快速批量检测电路板的功能。
4.逻辑电平阈值自动扫描,确定板№系统逻辑电平阈值零界值,设定循环测试来发现不稳定▅的错误结果.
5.逻辑电平阈值自定义。可以设定非标准的逻辑电平阈值，检查⊙不稳定的元器件。
6.短路电阻测量功能：三段低电阻测量范围，可以用图像及声音的变化来表示电阻值大小，并自动探棒校正功※能。此功能可以用以检查电路板线路的电阻值，及检查短路点。
7.输出逻辑时序图形显示、具体时序电压值显示,方便掌握具体有用测试信息。
8.V-I曲线测试功能:可针对元件●直接进行测试，曲线电压ω 扫描范围：-10v~+10v；测试电压可】由2.5到5V步阶式调整, 可调整为非对称电压扫描信号，正负电压可以不一至，例如：-2.5v~+10v 最大限度地保证测试的安全性。其输出电流由系统自动调△整设定.扫描信号可」达几十种。
9.V-I曲线温漂拐○点系数测定，可以观测曲线拐☆点温度变化系数，易于发现一些器件的非固定性故障。方便找出不稳定器件.
10.系统可以在64路的基◤础上以64通道为单位进行通道扩充，直至256通道
英国ABI-6400电路︾板故障检测仪技术参数：
| 参数规格 |
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| 测试通■道数: | 64通道 |
| 总线〗隔离信号信道数: | 4通道 |
| 输出驱动电压: | TTL/CMOS 标准 |
| 输出驱动电流: | 电流依不同的逻辑电平『阈值有下列区分 |
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| 一般H-L 80mA @ 0.6V |
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| 一般 L-H 200mA @ 2V |
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| Max.?400mA |
| 驱动电压转换比: | >100V/μs |
| 电压范围: | +/-10V |
| 输入阻抗: | 10k |
| 逻辑形态: | 三□态或开集极开路 (内定或◥由程序设定) |
| 驱动逻辑形〒态: | Low, high, 三态 (tri-state) |
| 过电压保■护范围: | <0.5V, >5.5V |
| 最长测试时间: | 根据被测元器件而定 |
| 测试方式: | 在线及离线测试 (需外接离线测◤试盒) |
| 电源供给规格参数 |
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| 自↑动供给电源输出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
| 过电压保护: | 7V |
| 过电流保护: | 7A |
| 测试模式 |
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| 单次(Single): | 单次测试 |
| 循环(Loop): | 反复测试, 或条件式循环测试(PASS或FAIL) |
| 自动扫描测试: | 可找到较为严格的逻辑电平阈值 |
| 逻辑电平阈值设定规格参数 |
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| 最小调整ㄨ解析: | 100mV |
| 低电平Low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
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| CMOS 0.1V to 1.5V |
| 三态Switching levels: | TTL 1.0V to 2.3V |
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| CMOS 1.0V to 3.0V |
| 高电平High levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
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| CMOS 1.9V to 4.9V |
| 扫※描低逻辑范围Swept low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
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| CMOS 0.1V to 1.5V |
| 扫描逻辑转态范围Swept switching levels: | TTL 1.2V |
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| CMOS 2.5V |
| 扫描高逻辑范围Swept high levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
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| CMOS 1.9V to 4.9V |
| 测试功能及参数 |
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| 集成电↓路功能测试 | 根据测试库的功能进行测试，根据元件的原理和真值表进行测试 |
| 元器件连接特性测试 |
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| 短路状♂态侦测 Short circuit detection |
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| 悬浮（浮接）状态侦测 Floating input detection |
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| 开路状态侦测 Open circuit detection |
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| 连接状态侦测 Linked pin detection |
| 电压量测Voltage: | 最小解析 10mV 范围 +/-10V |
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| 具逻辑状态╲侦测 Logic state detection |
| VI曲线测试: | 测试通道数64 |
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| 电压』设定范围 -10V to +10V (可自行设定)，可以设置非对称电压扫描 |
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| 最大测试电流 1mA |
| 曲线拐点系数: | 管脚的v-i曲线图中的拐点图形，随温度产生变化的系⌒ 数，对于判定温漂的故障元件非常有↑帮助 |
| 配件 |
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| 标准配件 | 1 x离线测试测试盒 |
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| 1 x 64 way test cable (64通道测试线) |
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| 1 x 64 way split test cable (2X32通道测试线) |
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| 1 x V-I probe assembly (V-I曲线测试探棒) |
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| 1 x BDO cable (隔离通道信号测试线) |
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| 1 x Short locator cable (短路电阻测试探棒) |
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| 1 x Ground clip (接地ξ信号夹) |
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| 1 x PSU lead set (电源输出线▽) |
| 通讯及『机箱 |
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| 内置〖通讯接口 | PCI interface (通讯接口) |
| 外置通讯接口及机箱 | MultiLink case |
模块二：ABI-2400的技术参数
2400单独成为测量设备的外形
ABI2400电路板故障检◥测仪特点：
1)适合数字及模拟集成电路的测ζ 试
2)可进行在线或离线测试与分●析
3)具有24路测试通道+2路探棒测试
4)安全性高的无电源测量方式
5)矩阵式V-I曲线测试模式, 可针对管脚间的阻抗曲线进行测试
6)在进行离线◥测试时, 可针对芯□片内部进行阻抗分析
7)自动对比及储存曲○线,
8)可切换VI,VT及IT三种显示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件测试
9)可设定同步脉冲信号的宽度, 进行可控硅元器件ㄨ或FET的功能︽测试
10)可进行光耦合器及继电器元器件的速度功能测试
11)具有二组信号源, 可输出直流信号, 针对光电耦合器及继电器进行稳态测试.
12)曲线相似度百分比显示，具有业◥界中最多的测试条件设计, 大大提高了故障诊断能力.
13)测试频率高达到12kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件
14)本系统具备自动信号补偿功能, 可针对测试环境及夹具进行自校测试, 以防止测量信号◥失真.
15)可由软件来进行维修日志的编写
16)可由软件加入图片, 用来清▓楚的表示量测位置及电路板图像.
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ABI2400测试技术参数
| V-I 测试参数 | |
| 测量通道 | 24路测试通道 |
| 探笔通道 | 2通道【实时对比测试 |
| 信号通道 | 2通道同步脉冲信号 |
| 测试电压范╲围 | 2 V to 50 V peak to peak： 2、4、6、8、10、20、30、40、50V |
| 电压→分辨率: | 8 to 12 bits |
| 测试频』率范围: | 37.5 Hz to 12 kHz： 37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600/750/960/1.2k /1.5k/2.4k/3k/4.8k/6k/12kHz |
| 信号电流范围: | 1 μA to 150 mA |
| 测试阻抗范围: | 100Ω to 1MΩ 100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
| 测试信号波形: | 正玄波、三角波、斜波 |
| 显示图︻形模式: | V-I, V-T, I-T |
| 矩阵测试 | 各个管脚间↑的VI曲线测试 |
| 测量波形自动对比№功能: | 可利用实时量测双通道来自动实时对比好坏组件的▅波形, 或是将波形进行存储之后, 再进行比对工作. |
| 同步脉冲输出模式: | 正向(Positive), 负向(negative)或双向(bipolar)波形，直流模式 |
| 同步信卐号振幅: | 可调式由 +10 V ~- 10V |
