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                教育装备采购网首页 > 知识产权 > 专利 > CN86107454A
                
            
                
                
                
                    
                
                        

                        
                        
                    
                
                
                
            
                
        
                
        
                
            
                
                
                I型凹面光栅分度误差的检验方法
                
                
                
                
                
                    
                　　摘要：本发明公开了一种能定量检验I型凹面光栅分度误差的方法。它通过检验I型凹面光栅正负极光谱∮的衍射光束形成的干涉条纹，确定I型凹面光栅分度误差。
                
                    
                    
                  
                        
                • 专利类型发明专利
                  • 
                        
                • 申请人北京光学仪器厂;
                  • 
                        
                • 发明人吴振华;
                  • 
                        
                • 地址北京市通县
                  • 
                        
                • 申请号CN86107454
                  • 
                        
                • 申请时间1986年11月07日
                  • 
                        
                • 申请公布号CN86107454A
                  • 
                        
                • 申请公布时间1988年05月18日
                  • 
                        
                • 分类号G01M11/02;
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