摘要：一种基于MIE散射理论的激光粒度仪，包括激光器，激光器的后端按照激光光路的前进方向依次设置有傅里叶变换镜头、样品测试窗口、光电」阵列探测器，还包括辅助光电探测器5，所述辅助光电探测器5设置在所述样品测试窗口3与所述光电阵列探测器4之间并与激光光路主轴平行。本实用新型是基于MIE散射理论的激光粒度仪，代替以往的由半导体或气体激光器、扩束镜、空间滤波器组成光源系统的激光粒度仪，克服了以往光路调【试对扩束镜及空间滤波器性能要求过高但同时又很难满足的问题。
- 专利类型实用新型
- 申请人济南微纳颗粒仪器股份有限公司;
- 发明人任中京;于代君;
- 地址250000 山东省济南市高新区大学科技园北区F座▆东二单元
- 申请号CN201320812021.4
- 申请时间2013年12月11日
- 申请公布号CN203587476U
- 申ㄨ请公布时间2014年05月07日
- 分类号G01N15/02(2006.01)I;
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