摘要：本实用新型公开了一种自动折光仪上低温度梯度被测样品的测量装置，所述测量装置包括槽体、棱镜和盖子，所述槽体内开设有样品槽，所述棱镜安置在样品槽底部，所述盖子底部设有安插端，所述安插端与样品槽相配合，所述安插端底部设有一用于安置被测样品的安置槽。本实用新型最大限度地减少了被测样品的温度梯度，大大的提高了测量速度和测量精度。
- 专利类型实用新型
- 申请人上海仪迈仪器科技有限公司;
- 发明人张琪;
- 地址201612 上海市松江区漕河泾开发区松江高科技园莘砖公路518号3幢402室
- 申请号CN201320636916.7
- 申请时间2013年10月15日
- 申请公布号CN203502346U
- 申请公布时间2014年03月26日
- 分类号G01N21/43(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;
