摘要：本实用新型公开了一种X射线检测装置，包括铅房、连接到铅房正面的送样装置、设置在铅房一侧的观察装置以及设置在铅房另一侧的C形臂接入装置，送样装置包括与铅房正面盖板内侧的框形的送样架、样品微调装置以及样品盘，样品微调装置和样品盘均设置在送样架的框形结构内，样品盘设置在样品微调装置上，送样架与对应设置在铅房内的滑轨连接，观察装置包括观察门以及设置在观察门上的观察孔，C形臂接入装置包括连接在铅房外侧的连接架。本实用新型解决的技术问题在于通过设置在送样架上的样品微调装置对待检样品的检测状态进行调整，降低检测难度，提高了检测的准确性和检测精度。
- 专利类型实用新型
- 申请人伟杰科技（苏州）有限公司;
- 发明人唐纳德;
- 地址215126 江苏省苏州市苏州工业园区星龙街428号苏春工业坊27-D
- 申请号CN201220283206.6
- 申请时间2012年06月15日
- 申请公布号CN202649141U
- 申请公布时间2013年01月02日
- 分类号G01N23/02(2006.01)I;G01N23/20(2006.01)I;
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