摘要：本发明公开了一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度的方法，通过测量一定带宽内宽光谱信号的实际功率，以及采用光谱分析仪测量该宽光谱信号在该带宽内的采样点的功率之和，获取光谱分析仪的校正分辨率；并用校正分辨率代替光谱分析仪的设置分辨率，获取光信噪比，提高其测量精度※；本发明提供的这种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度的方法能有效地解决光谱分析仪的设置分辨率与实际分辨率不同导致光信噪比测量误差较大的问题；本发明提供的方法适用于所有光谱分析仪分辨率的校正，也适用于所有基于光谱分析的光信噪比测量方法精度的提高，具有操作及处理方法简单，且易于实施的优点。
- 专利类型发明专利
- 申请人华中科技大学;
- 发明人柯昌剑;尹国;邢晨;崔晟;刘德明;
- 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 申请号CN201610815635.6
- 申请时间2016年09月09日
- 申请公布号CN106533551A
- 申请公布时间2017年03月22日
- 分类号H04B10/079(2013.01)I;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
