摘要：本发明公开了一种X射线荧光光谱法快速测定食盐中微量元素⌒ 的方法，包括以下步骤：取一定量的食盐样品，粉碎处理达到一定的颗粒度；将粉碎后的食盐样品置于样品杯中压实，形成待测食盐样品；利用X荧光光谱法测量待测食盐样品的X荧光强度；基于公式1：![]()
计算出食盐中的选定元素的含量，其中，X为X射线荧光强度，Y为选定元素的百分比含量，K为固定参数。该方法能同时检测食盐中多种金属元素、有害元素以及碘元素等微量元素的含量，且具◥有操作简单、分析速度快、准确性高以及灵敏度高▓等优点。
- 专利类型发明专利
- 申请人苏州三值精密仪器有限公司;
- 发明人杨振;杨剑;
- 地址215000 江苏省苏州市吴中区金枫南路1258号B1幢
- 申请号CN201610256731.1
- 申请时间2016年04月22日
- 申请公≡布号CN105866156A
- 申请公布时间2016年08月17日
- 分类号G01N23/223(2006.01)I;
