摘要：本发明公开了一种基于分形理论的绝缘材料闪络后表面微观形貌分析方法，包括以下步骤：步骤1：对绝缘材料进行闪络放电实验，获取所述绝缘材料的AFM表面形貌图；步骤2：将所述绝缘材料的AFM表面形貌图转换为灰度图像；所述灰度图像的尺寸为m×m；步骤3：用分形法或多重分形法对所述灰度图像进行处理，获取分形参数；步骤4：根据分形参数定量分析所述绝缘材料闪络后的表面微观形貌。本发明将灰度法、分形理论及AFM微观观测手段结合来分析绝缘材料闪络后的表面形貌，三者的优点得到充分发挥，分析结果更加有效、可靠。
- 专利类型发明专利
- 申请人华北电力大学（保定）;
- 发明人谢庆;黄河;陆路;胡志亮;王涛;林浩凡;付可欣;律方成;
- 地址071000 河北省保定市北市区永华北大街619号
- 申请号CN201610178834.0
- 申请时间2016年03月25日
- 申请公布号CN105825527A
- 申请公布时间2016年08月03日
- 分类号G06T7/40(2006.01)I;
