摘要：本发明提供了一种基于紫外光激发的全光谱光致发光光谱检测系统，所述系统包括探测器、影像校正光谱仪、入射狭缝、汇聚透镜、瑞利散射滤光片、聚焦物镜、样〗品以及激光器，所述的系统还包括设置在瑞利散射滤光片与♀聚焦物镜之间的硅片。所述的硅片包括第一部件、第二部件以及第三部件。在本发︻明的优选实施方式中，第一部件为圆形环，第二部件沿所述的圆形环的径向延伸，且第二部件的两端与圆形环相接，第三部件设置在№第二部件的中心。通过由采用特殊工艺制成的硅◢片替换现有光致发光光谱检测系统中的二向色镜，实现了荧光的光谱范围不受任何限制，全波段▲通光，克服了现有技术中的光致发光光谱检测系』统无法检测更宽波段的技术问题。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京卓立汉光仪器有限公司;
- 发明人张恒;
- 地址101102 北京市中关村科技园区通州园金桥产业∏基地环科中路16号，联东U谷中试区68号B座
- 申请号CN201610194828.4
- 申请时间2016年03月31日
- 申请公布号CN105806817A
- 申请公布时▽间2016年07月27日
- 分类号G01N21/64(2006.01)I;
