摘要：本发明提供一种利用光学显微镜图片判断石墨烯层数率的方法，利用对」比度值C做出概率分布图，将该对比度值C与理论计算的对比度值C0进行比较，分辨出石墨烯不同层对应的峰位置；将概率分布图进行拟合，拟合得到分别对应不同层数的多个峰，并得到峰面积；利用得到的指定拟合峰面积与各拟合峰面积之和相比的方法，判断石墨烯的层数率。该方法具有操作简单、效率高、成本低、误差■小的特点，且可以用于判断不同衬底上不同方法制备的石墨烯的层数率，另外还可以判断其他二维纳米薄膜材料的层数率等优势。
- 专利类型发明专利
- 申请人泰州巨纳新能源有限公司;泰州石墨烯研究检测平台有限公司;上海巨纳科技有限公司;
- 发明人梁铮;丁荣;倪振华;于远方;南海燕;陈谷一;袁文军;
- 地址225309 江苏省泰州市海陵区凤凰西路168号
- 申请号CN201510690003.7
- 申请时间2015年10月21日
- 申请公布号CN105300882A
- 申请公布时间2016年02月03日
- 分类号G01N21/00(2006.01)I;
