摘要：本发明提供一种半导体激光器测试系统，包括多台测试仪、控制主机、测试仪电源线、测试仪供电电源、半导体激光器电源线和数据总线；每台测试仪与每个被测半导体激光器一一对应；每台测试仪通过数据总线与控制主机连接，通过测试仪电源线与测试仪供电电源连接，半导体激光器的电源受测试仪控制；测︼试仪包括处理器、存储器、功率传感器、电压传感器、电流传感器、温度传感器和制冷设备；处理器接收到控制主机发送的测试指令←后断开与数据总线的电连接，控制上述各传感器进行参数数据采集，将参数数据处理结果存储在存储器中，实现了同时对多台半导体激光器的工作稳定性的高效、全面准确测〇试，且离线测试保证了长期测试过程中数据的〖安全可靠。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京光电技术研∩究所;
- 发明人张丽雯;陆耀东;王涛;任奕奕;宋金鹏;张玉莹;
- 地址100010 北京市东城区东皇城根北街甲20号
- 申请号CN201510250455.3
- 申请时间2015年05月15日
- 申⌒ 请公布号CN104880298A
- 申请公布时★间2015年09月02日
- 分类号G01M11/00(2006.01)I;
