摘要：一种USB3.0线缆测试方法及其装置，包括两颗USB3.0芯片，以及连接在两颗芯片之间的待测USB3.0线缆，将两颗USB3.0芯片设置进入回环模式，观察USB芯片回环╱模式训练结果，判断待测线缆是否正常。如果发现USB芯片，无法进入回环模式，则说明待测线缆不能用于实际使用。如果能够进入回环模式，则根据USB芯片中的错误数来判断待测线缆的质量情况。当错误数大于所述阈值时，认为测试失败。本发明利用≡了回环模式，操作方式∏简单，成本低，测试过程模拟了最终用户的使用过程，测试▲结果和USB3.0线缆在最终使用过程中的表现有较好的一致▂性，且测试↓过程中人工参与很少，大大提高了测试效率。
- 专利类型发明专利
- 申请人长芯盛（武汉）科技〇有限公司;
- 发明人江辉;李笑天;汤金宽;
- 地址430073 湖北省武汉市东湖新技术开发区关山二路ξ 四号
- 申请号CN201410311680.9
- 申请时间2014年07月02日
- 申请公布☉号CN104090198A
- 申请公布时间2014年10月08日
- 分类号G01R31/02(2006.01)I;
