摘要：单光束双工位大量程激光粒度测量装置，包括一用于发射激光的激光器1，激光器1的后端按照激光光路的前进方向依次设置有扩束镜2、傅里叶透镜4、用于改变激光光路方向的光学组件、光电探测器阵列10，一样品窗6，所述傅里叶透镜4和光学组件之间设有第一工位12，所述光学组件和光电探测器阵列10之间设有第二工位9，所述样品窗6在所述第一工位12和第二工ぷ位9之间相对移动。本发明的有益效果为：采用折叠光█路，可移动样品窗，实现了对样品的二次测试，扩大了仪器≡测量范围,光路长度缩短为原长的1/2。大大减小←了仪器体积，提高了仪器〇测量精度，为激光粒度仪的广泛普及提供了一种全№新最优化的结构。
- 专利类型发明专利
- 申请人济南微纳颗粒仪器股份有限公司;
- 发明人任中京;陈栋章;
- 地址250000 山东省济南市高新区大学科技园北区F座东二单元
- 申请号CN201310343638.0
- 申请时间2013年08月08日
- 申请公布号CN103398926A
- 申请公布时间2013年11月20日
- 分类号G01N15/02(2006.01)I;
