摘要：一种X射线荧光光◥谱仪的测量设置结构，光谱仪包括X射线管和探测器，X射线管与样品间入射角为α，探测器与样品间出射角为β，α和β的范围为45°～55°，X射线管的发射端与样品入射点的间距d1为1～1.2cm，样品入射点与探测器接收端的间距d2为1.1～1.6cm。本发明优化设计了X射线管、样品和探测器之间的结构，降低了X射线荧光光谱分析中的散射背景，提高特征X射线全能峰的峰背比，以便降低测量系统的检出限。
- 专利类型发明专利
- 申请人南京华欣分析仪器制造有限公司;东南大学;
- 发明人戴挺;杨立新;周怡君;徐随山;杜曙威;
- 地址211300 江苏省南京市高淳县淳溪镇汶溪路289号
- 申请号CN201110372289.6
- 申请时间2011年11月22日
- 申请公布□ 号CN102507625A
- 申请公布时间2012年06月20日
- 分类号G01N23/223(2006.01)I;
