摘要：本发明公开了一种非电学量测定系统及方法，用于测定非电学量；本发明所述的系统及方法采用高阶非线性←特征方程描述被检测非电学量与频率信号值和温度信号值之间的关系，同时，所述高阶非线性方程的系数使用高阶非线性拟合算法，通过大量的数据拟合算出，保证了检测的精度，避免了由于采用分段线性的方法而导致的检测精度不高的情况。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京华控技术有限责任公司;
- 发明人常先明;徐昭敏;陈小枫;耿东汉;
- 地址100085 北京市海淀区上地◣东路1号华控大厦1层
- 申请号CN201010243096.6
- 申请时间2010年08月02日
- 申请公≡布号CN101936746A
- 申请公布时间2011年01月05日
- 分类号G01D3/028(2006.01)I;
