摘要：本发明涉及PCB检测方法的相关技术领域，特别是一种用X射线检测PCB的方法。一种用X射线检测PCB的方法，所述方法包括〖通过X射线对PCB进行成像处理得到成像图片，所述方法包括：(11)对成像图片统计灰度直方图；(12)统计灰度直方图中像素分布最密集的地方，确定灰度范围[A，B]；(13)用ω户确定灰度范围[A，B]，输入色阶范围，输出色阶范围；(14)拉伸灰度范围[A，B]到新的灰度范围[Z1，Zk]从而得╳到新的成像图片。本发明使图像更加清晰可辨，可更加快速识别。
- 专利类型发明专利
- 申请人广东正业科技股份有限公司;
- 发明人梅领亮;刘世群;徐地华;陈伯平;吴伟钦;许德平;梁前;
- 地址523808 广东省东莞市松山湖科技产业园区科技九路2号
- 申请号CN201010129714.4
- 申请时间2010年03月19日
- 申请公布号CN101806756B
- 申请公▽布时间2012年03月28日
- 分类号G01N23/04(2006.01)I;
