摘要：本发明涉及一种电子天平量程校准方法，包括如下步骤：a)称量并记录电子天平第一次空ζ载读数；b)称量并记录电子天平加载已知质量砝码的读数；c)称量并记录电子天平第二次空载读数；d)根据〓第一次、第二次空载读数及加载读数求解新的灵敏度系数及零点修正系数；以及e)更新所述电子天平的灵敏度系数及零点修正系数。本发明的电子天平量程校准方法可以同时解决量程漂移及零点漂移问题，并提高校准精度。
- 专利类型发明专利
- 申请人梅特勒-托利多仪器(上海)有限公司;奥豪斯仪∑器(上海)有限公司;
- 发明人孙卫祥;J-C·埃默里;王长林;
- 地址200233 上海市桂平路589号
- 申请号CN200810041549.X
- 申请时间2008年08月11日
- 申请公布号CN101650215B
- 申请公布时间2011年11月30日
- 分类号G01G23/01(2006.01)I;
