摘要：本发明涉及基于偏振分析的光谱特性测量方法及其装置，属于光谱分析技术领域，该方法包括：使被测光进入DGD装置，产生在相互垂直的偏振模式有不同差分群时延的输出光；测量输出光〓与DGD值相对应的光偏振态和偏振度；对测得的输出光偏振态和偏振度处理，生成被测光的光谱。该装置包括：一个DGD装置，通过改变DGD值，接收︼被测光并产生不同的群时延；一个光探测器，接收经过DGD装置的光信号，同时去↓测量输出光的偏振态和偏振度；一个数据处理装置，通过处理来自探测器的光偏振态和偏振度信息，获得被测光的光谱。本发明可以实现很快的测量速率，用来测量与时间函数有关的快速扫描激光。可以通过控制◇差分群时延值，获得最小频率间隔，提高光谱分辨率。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京〇高光科技有限公司;通用光讯光电技术(北京)有限公司;
- 发明人姚晓天;
- 地址100089北∩京市海淀区长春桥路11号亿城大厦C1座303
- 申请号CN200910001104.3
- 申请时间2009年01月22日
- 申请公布号CN101487738A
- 申★请公布时间2009年07月22日
- 分类号G01J3/447(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
