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                快速探测宽谱面光谱的方法

                  摘要:本发明属于光栅摄谱仪快速探测宽谱面光谱的技术,本发明的快速探测宽谱面光谱的方法,包括多个CCD器件拼接探测光栅摄谱仪宽阔谱面的光谱、同步并行数据采集技术和三维显示不同时段光谱的技术。是在光栅摄谱仪的谱面位置安装由多个线阵CCD器件首尾交错拼接,并使前面CCD的末尾像元与后面CCD的首像元在垂直像元排列方向上重合。拼接时使两行线阵CCD像敏阵列的中心距小于等于12mm,拼接起来的探测器在240mm宽的范围内探测谱线高度超过12mm高的光谱。不仅含有线阵CCD器件按机械拼接方式实现无缝拼接的技术、多路并行数据采集的技术还包括以三维空间图像显示方式显示所采光谱的技术。而且能够探测不同时间段□ 光谱的变化和同一时刻谱面各光谱的强度。
                • 专利类型发明专利
                • 申请人天津市耀辉光电技术有限公司;
                • 发明人王庆有;
                • 地址300190天津市南开区工业园平昌道7号(光电子产业园2号楼301室)
                • 申请号CN200710058715.2
                • 申请时间2007年08月10日
                • 申请公布号CN101135589A
                • 申请公布时间2008年03月05日
                • 分类号G01J3/28(2006.01);G01J3/18(2006.01);