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                教育装备采购网首页 > 知识产权 > 专利 > CN100485364C
                
            
                
                
                
                    
                
                        

                        
                        
                    
                
                
                
            
                
        
                
        
                
            
                
                
                一种光学参数绝对值测量仪及其测量方法
                
                
                
                
                
                    
                　　摘要：本发明公开了一种光学参数绝对值测量仪及其测量方法，其特征在于检测器的位置和样品台均可绕样品台的圆心O点旋转，旋转的角度由微处理器CPU根据外接计算机的指令控制步进电机执行。测量时以空气作参比，记录、计算样品的反射率的绝对值。与现有技术相比，由于无多块反射镜的多次反射，使进入检测器的光能量强，仪器操作简便、高速，测量准确度高∑　，重复性好。
                
                    
                    
                  
                        
                • 专利类型发明专利
                  • 
                        
                • 申请人上海光谱仪器有限公司;
                  • 
                        
                • 发明人陈建钢;刘志高;黄蕾;边丽;
                  • 
                        
                • 地址200233上海市宜山⊙路705号科技大厦4-10楼
                  • 
                        
                • 申请号CN200510072536.5
                  • 
                        
                • 申请时间2005年05月10日
                  • 
                        
                • 申请公∞布号CN100485364C
                  • 
                        
                • 申请公布①时间2009年05月06日
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                • 分类号G01N21/17(2006.01)I;G01N21/55(2006.01)I;
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