多年来，已经提出了许多评估microCT系统性能的方法。通常，高分辨率的限制因素是焦点尺寸。这就是为什么许多测试仅依赖于从2D投影图像确定光斑大小的原因。但是，3D中的真实空间分辨率取决于更多因素，而不仅仅是系统的机械精度。与持续时间相对较短的2D测试相比，所需的时间稳定性要求更为严格。最后，处理和重建算法对3D可获得的空间分辨率也有重大影响。
MicroCT的3D空间分辨率测试用——Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom
评估3D空间分辨率的一个很好的工具是可用德国QRM GmbH获得的Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom 。体模包含两个放置在正交位置的硅芯片，包围了1至10μm的多个分辨率测■试图案。在"使用QRM公司的MN099_3D空间分辨率"中，模体的使用以SkyScan 1272台式高分辨ぷ率微CT为例。
可选地，ASTM E 1695-95包含基于均匀圆柱状测试对象（例如铝销）的扫描的测试方法。3D空间分辨率通过调制传递函数进行量化。另外，给出了确定对比灵敏度的指令。
来自QRM GmbH的Bar Pattern NANO Phantom扫描的重建切片，使用SkyScan 1276高分辨率体内微型CT进行了扫描，图像像素尺寸为2.8μm。
MicroCT 2D空间分辨率——JIMA RT RC-04分辨率测试卡
通过测试对象（例如由W合金或Pt制成的球或交叉线）对传输曲线的仔细评估，可以确定边缘的不清晰度。由此可以根据EN 12543-5：1999中所述计算光斑尺寸，或者对于5μm至300μm的光斑尺寸，也可以按照ASTM E 2903-13进行计算。对于更高分辨率的系统，可以通过分析从线条或星形图案确定的调制传递函数MTF来计算焦点尺寸。所述JIMA分辨率测试卡RT RC-04和RT RC-02B包含线图案范围为0.1 - 10微米，0.4 - 15微米分别。
通过SkyScan 2211多尺度X射线nanoCT获得的MicroChart JIMA RT RC-02B的投影图像。
详细参数见具体产品详情页：
德国QRM是一家质控模体生产厂家，主要重点是诊断X射线，CT和微CT成像领域。能够提供模体来分析图像质量（IQ），校准HU级别以及剂量学问题。
JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统︻在微米和纳米焦点的图像质量。
