2013年8月20至21日，“2013全国表面分析科学与》技术应用学术会议暨表面分析国家标准宣贯及X射线光电子能谱(XPS)高端研修班” 在北京西郊宾馆召开。本次会议由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办，国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、清华大学分析中心、北京师范大学分析测试中心和北京大学分析测试中心联合承办，是一场高水平的专业学术会议。
本次会议旨在■推动表面分析学科及其应』用技术的发展以及与其他学科的融合，加强行业内的交流，进一步提升人员队伍的理论和技术水平。高校分析测试研究会领导、成员单位和部分企业高管共计百余人参与了本次会议。
高校分析测试中心研究会理事长、上海交通大学≡分析测试中心主任梁齐︾教授致欢迎词
梁齐教授在讲话中提到：“高校分析测试中心研究会希望通过举办“高端分析仪器研修班”来加强高校分析测试中心之间的学术交流，帮▲助大家更好的了解XPS的先进技术及其应用♂。研究会举办的第一届“仪器前沿技术々与应用高端研修班—透射电镜”已于今年7月在中科大成功举办，得到各大中心人员的支持与欢迎。这次研修班是第二届，我们力求做到更好。”
高校分「析测试中心研究会副理事长、清华大学分析测试中心常务副主任朱永法教授◤讲话
朱永法教授表示：“XPS技术作为一门专业课，在高校得到的重视一直不够，国内也有多年没有举办类似的会议。所以这次会议目的在于重建队伍和人员整合，争取建立起表面分析专业委员会。让XPS技术原理、产业应用、数据处理△得到广泛的传播，规范行业发展◥。”
本次会议共分为三个阶段，一是同行学术交流，二是国家相关标准宣贯，三是高端培训研修。主办方为参加研究班的老师准备了精美的结业证书。
高校分析测试中心研↘究会成员单位北京工业大学、北京化工大学←、南京大学、四川大学、北京师范大学、清华大学、汕头大学、中山大学、扬州大学等纷纷派技术人员代表参与了本次会议，并做了专业报告。
报告人：汕头大学王江【勇
报告题目：Recent Progresses on Quantification of Sputter Depth Profiling
报告人：上海交通大学邹志强
报告题目： 硅基底◇上外延生长的MnSi纳米线的STM、TEM和XPS研究演讲
报告人：北京化工大◇学程斌
报告题目：XPS在高分子材料中的应用
报告人：南京大学高飞
报告题目：利用原位手段研究TIO2暴露晶面对AU/TIO2催化性质及金属-载体强相互作用的影↑响
报告人：四川大学田云飞ζ
报告题目：聚苯硫醚微等离子体表面改性的X射线光电子能谱分析
报告人：北京师范大学吴正龙
报告题目：超薄氧※化硅薄膜包覆纳米铜的SERS基体的初步研♂究
报告人：中山大学谢方艳
报告题目：光电子能谱在有机半导体研究中的应用
报告人：清华大学☆姚文清
报告题目：GB/T28894-2012/ISO18117:2009表面化学分析 分析前样品的处■理
报告人：中科院大连化学物理研究所盛世善
报告题目：XPS数据的后期处理与（半）定量计算
报告人：中科院化学所刘芬
报告题目：XPS谱图解↙析案例
清华大学证书
合影留念
现场颁发证书
研修班培♂训结束后，高校分析测试中心研究会副理事长李崧主任和侯贤灯主任共同为所有参加培训的学员颁发证书。据悉下一届研修班将于明年在四川大学举办，相关报名信息敬请关注高校分析测试研究会网站。
