双彩网

  • <tr id='3NDpV0'><strong id='3NDpV0'></strong><small id='3NDpV0'></small><button id='3NDpV0'></button><li id='3NDpV0'><noscript id='3NDpV0'><big id='3NDpV0'></big><dt id='3NDpV0'></dt></noscript></li></tr><ol id='3NDpV0'><option id='3NDpV0'><table id='3NDpV0'><blockquote id='3NDpV0'><tbody id='3NDpV0'></tbody></blockquote></table></option></ol><u id='3NDpV0'></u><kbd id='3NDpV0'><kbd id='3NDpV0'></kbd></kbd>

    <code id='3NDpV0'><strong id='3NDpV0'></strong></code>

    <fieldset id='3NDpV0'></fieldset>
          <span id='3NDpV0'></span>

              <ins id='3NDpV0'></ins>
              <acronym id='3NDpV0'><em id='3NDpV0'></em><td id='3NDpV0'><div id='3NDpV0'></div></td></acronym><address id='3NDpV0'><big id='3NDpV0'><big id='3NDpV0'></big><legend id='3NDpV0'></legend></big></address>

              <i id='3NDpV0'><div id='3NDpV0'><ins id='3NDpV0'></ins></div></i>
              <i id='3NDpV0'></i>
            1. <dl id='3NDpV0'></dl>
              1. <blockquote id='3NDpV0'><q id='3NDpV0'><noscript id='3NDpV0'></noscript><dt id='3NDpV0'></dt></q></blockquote><noframes id='3NDpV0'><i id='3NDpV0'></i>
                教育装▽备采购网
                第六届图书馆论坛580*60

                湖北孝感某厂电路板故障检测仪的技术交流

                教育装备采购网 2012-04-17 12:13 围观725次

                  2011年10月17日,北京金三航科技发展有限公司技术主管等2人在湖北孝感某单位进行集成电路筛选测试与电路板故障检测的技术交流,参会者包括孝感地区主要的工厂的技术负责人。

                  技术交流产品:1)英国ABI 的AT192&AT256集成电路筛选测试仪 2)英国ABI的BM8500电路板故障诊断系统

                  会议期间,主讲人详细介绍了英国ABI的产品线,并现场进行了元器件-集成电路的筛选测试演示,并对用户带来』的故障电路板进行了现场测试,并发现了故障点。得到了用户的好评!

                  湖◥北孝感某厂技术交流图1

                  湖北孝感某厂技术交流图2

                  

                  湖北孝感某厂技术交流图3

                  英国ABI AT192&256集成电路测试仪简介:

                  目前唯一不受测试库限制的元器件筛选测试仪,可以通过好的器件快速建立自己的测试库测试管脚可以达1024管脚(分4次测量),测试准确度高,可以做元件的失↑效分析。

                  很多测试案例,证明了他的测试结果的可靠性,“他是集成电∮路的万用表”。对一些超大的集成电路,这种测试是唯一的解决办法。

                  这个方法是目前解决元器件入库筛选的全品种的∩最经济的测试手段。

                  因为很多大规模集成电路的参数测试库的编译费就高达上万美金。

                  英国ABI BM-8500电路板故障检测仪简介:

                  l Digital IC Test 数字集成电路测试功能

                  具128个量测通道 (64通道X2组模块).八组输出隔离信号.一组5V /5A的电源输出.可进行集成电路的功能测试、电压测量、接脚连接测试、温度♂指数及V-I曲线量测.内建逻辑时序信号测量功能、EPROM 数据比对功能、数字集成电路搜寻功能等.并可针对数字逻辑位准进行调整,另外可自动定位集成电路接脚及电路状态比对功能.

                  l Analogue IC Test 模拟集成电路测试功能

                  具有24组测试通道及外加一组的分离集成电路测试信道.内建集成电⊙路数据库可测量模拟放大器、比较器、光耦合器、晶体管、二极管及特殊功能的集成电路.可针对模拟集成电路进行功能测、连接状态测试及电压测量.并具有自动定位集成电路接脚及电路状比对功能.

                  l Digital V-I Test 数字式V-I曲线测试功能

                  具128量测通道(64通道X2个模块).可调整测量信号电压范∑围.针对数字集成电路可达到有效的测量结果.

                  l Analogue V-I Test 模拟式V-I曲线测试功能

                  具有24量测通道及外加二组独立测量通道.其具有可调频率、可调电压、可调输出阻抗及选择测量波形功能.并可选择波形显示模式:V-I、V-T及I-T三种显示√模式.二组同步可变脉宽的信号输出.内建测量线路@ 补偿功能.具有外接盒可供选配.

                  l Matrix V-I 矩阵式V-I测试功能

                  具有24组矩阵式的测量通道.单一波形多重显示的方式,并可直接进行测量波形的比对功能,并以条状图的方式来显示各通道信号的差异百分比.

                  l Graphical Test Generator 数字时序编♀辑功能

                  具有128个信号通道可供编辑数字时序信号,每个通道可设定输出、输入及双◆向状态.并可读取数字向量信号、并且储存之后再进行比对.

                  l Floating Digital Multimeter双通道万用电表功能

                  具二组ξ自动换文件的测量通道,可测量DC及AC电压信号达400V,可测量DC及AC电流信号可达2A.阻抗︻测量可达20M欧姆,各信道具有统计功能,可显示最大值、最小值及平均值.另外提供一组计算器,可针对所测量到的数值进行实时的计算并记录.

                  l Universal I/O 通用型输出/输入通道功能

                  具有四组模拟信号通道及四组数字信号通道.模拟信号通道可设定成为电压输出、电压量测、电流输出及电流测量四种工作模式.其电压范围为-9V to +9V,而电流范围可达20mA.数字信号通道可设定为输出逻辑HIGH、逻辑LOW或是侦测目前通道的信号逻辑状态,其输出及输入能力是以TTL位准为标准.

                  l Short Locator 短路电阻测量功能

                  具有三段低电阻测量范围,可以图示及声音来判断目前短路的位置.

                  l Auxiliary Power Supply 固定型电源输出功能

                  具三组固定式的电源输出,分别为:5V/0.5A输出,+9V/ 100mA输出及-9V/100mA输出.各信道都具有电流值监测功能.

                  l Variable Power Supply 可调型电源▲输出功能

                点击进入北京金三航科技发展有限公司展台查看更多 来源:北京金三航科技发展有限公司 我要投稿
                普教会专题840*100

                相关阅读

                • 美华仪对数字集》成电路测试仪技术简介

                  美华仪对数字集成电路测试仪技术简介
                  北京美华仪科技有限公司03-15
                  数字集成电路测试仪简介规格:1、CMOS40系列:103种。2、CMOSMCI40系列:103种。3、CMOS45系列:60种。4、CMOSMCI45系列:60种。5、光耦合器系列:133...
                • R&S力推面向未来的半导体元件及集成电路测试解决方案
                  21IC中国电子网03-04
                  罗德与施瓦茨公司(RohdeSchwarz,RS)于2013年2月28日至3月2日在深圳举办的2013年集『成电路研讨会暨展览会(IICCHINA2013)上全面展示面向未来的各种半导体元件及集成电路的测试解决方案。其中包括:...
                • 英国ABI产品技术交流研讨会新闻报道
                  北京金三航科技发展有限公司04-17
                  为了提高各生产厂、研究机构的电路板故障检测和集成电路的筛选测试水平,全球著名的电路板故障检测和集成电路筛选检测设备生产厂商英国ABI公司来京于2012年3月13日星期二在北京市海淀区翠宫饭店...
                • 金三航公司参加中国(丹东)国际仪器仪表博览会
                  北京金三航科技发展有限公司04-17
                  2011首届中国(丹东)国际仪器仪表博览会于2011年10月18日到20日在中国辽宁丹东召开。我公司(北京金三航科技发展有限公司)作为英国ABI的总代理接受参展邀请,展出了英国ABIBM8500电路板故障检测仪...
                • 英国ABI在沈阳地区经销商销售培训
                  北京金三航科技发展有限公司04-17
                  英国ABI在沈阳地区经销商销售培训2011年8月9日北京金三航科技发展有限公司代表英国ABI在沈阳举办了英国ABI沈阳地区经销商培训会。主讲人:北京金三航科技发展有限公司总经理刘峥参会人员:东北三...
                • 金三航在航天某所举办英国ABI产品技术研讨会
                  北京金三航科技发展有限公司04-17
                  北京金三航与航天某所组织集成电路与电路板测试、电力测量、激光超声波无损检测及防静电技术研讨会为了进一步推动测试与测量技术的发展,为广大测试应用工程师提供一个互动平台,航天科技集团公...
                • 英国ABI武汉地区经销商销售培训
                  北京金三航科技发展有限公司04-17
                  我公司代表英国ABI在武汉地区为当地经销商进行英国ABI集成电路测试仪与电路板故障检测仪的销售培训2011年8月26日北京金三航科技发展有限公司代表英国ABI在武汉滨湖花园酒店举办了英国ABI武汉地区...
                • 金三航科代表㊣ 英国ABI参加北京教育装备展示会
                  北京金三航科技发展有限公司04-17
                  2011北京教育装备展示会展览时间:2011.4.7-2011.4.8展会地点:北京展览馆北京金三航科技发展有▆限公司做为英国abi中国区总代理参加了该展览,展出了集成电路测试仪、电路板故障检测仪、BM8500电...

                版权与免责声明:

                ① 凡本网注╲明"来源:教育装备采购网"的所有作品,版权均属于教育装备采购网,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品,应在授权范围内使用,并注明"来源:教育装备采购网"。违者本网将追究相关法律责任。

                ② 本网凡№注明"来源:XXX(非本网)"的作品,均转载自其它媒体,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个【人从本网下载使用,必须保留本网注明的"稿件来源",并自负版权等法律责任。

                ③ 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。

                2022云展会300*245